Воздействие радиации на интегральные микросхемы
Коршунов Ф.П., Богатырев Ю.В., Вавилов В.А.
В монографии обобщены результаты исследований советских и зарубежных ученых, полученные при изучении воздействия проникающей радиации на интегральные микросхемы и их элементы. Рассматриваются радиационные нарушения в интегральных микросхемах на основе биполярных и униполярных транзисторов, при этом учитываются как радиационные изменения свойств полупроводниковых материалов, так и процессы в отдельных элементах микросхем.
หมวดหมู่:
ปี:
1986
สำนักพิมพ์:
Наука и техника
ภาษา:
russian
จำนวนหน้า:
256
ISBN 10:
2403000000
ISBN 13:
9782403000009
ไฟล์:
DJVU, 3.12 MB
IPFS:
,
russian, 1986
Litres
ต้องการเพิ่มร้านหนังสือ? ติดต่อเราได้ที่ support@z-lib.do
สามารถแปลงไฟล์ได้
ผลการค้นหาเพิ่มเติม
สิทธิประโยชน์อื่นๆ 
![Березин А.С., Мочалкина О.Р. — Технология и конструирование интегральных микросхем [Учеб. пособие для вузов по спец. ''Физика и технология материалов и компонентов электрон. техники'' и ''Микроэлектроника и полупроводниковые приборы'']](https://s3proxy.cdn-zlib.se/covers200/collections/genesis/0dfbbdf457ebf01a0dfeaf85164efe3ec9f0b4c340e20623980ab7d1e680ffea.jpg)
